Олехнович Николай Михайлович
Физик. Академик НАН Беларуси, директор Института физики твердого тела и полупроводников (1993–2004). Доктор физико-математических наук, профессор.
Биография
Николай Михайлович Олехнович родился 2 мая 1935 года в д. Вороничи Слонимского района Гродненской области. В 1957 г. окончил физико-математический факультет Белорусского государственного университета. Будучи студентом, в 1956 г. начал научную деятельность в Физико-техническом институте Академии наук Беларуси. С 1959 г. Н. М. Олехнович работал в начале в Отделе, а затем в Институте физики твердого тела и полупроводников АН Беларуси, где прошёл путь от младшего научного сотрудника до директора института, работая в этой должности до 2004 года. Одновременно с 1997 г. по 2002 г. Н. М. Олехнович академик-секретарь Отделения физики, математики и информатики Национальной академии наук Беларуси. С 2004 г. главный научный сотрудник Объединенного института физики твердого тела и полупроводников Национальной академии наук Беларуси, с 2007 г. Научно-практического центра по материаловедению Национальной академии наук Беларуси.
Научные исследования посвящены проблемам химической связи в твердых телах, дифракции рентгеновских лучей в реальных кристаллах, получения новых материалов, в т. ч. с использованием высоких давлений. Развил методы экспериментального определения пространственного распределения электронного заряда и потенциала в кристаллах и определения по ним физических свойств, раскрыл ковалентно-ионный характер химической связи в важной группе полупроводниковых кристаллов. По итогам этих работ в 1963 г. он защитил диссертацию на звание ученой степени кандидата физико-математических наук.
С 1967 г. Н. М. Олехнович начинает исследования по изучению дефектности реальных кристаллов. Он развил рентгеновский дифракционно-поляризационный анализ реальных кристаллов. Обнаружил и исследовал явления двулучепреломления и деполяризации рентгеновского излучения при дифракции в дислокационных кристаллах, на основе которых развил поляриметрию рентгеновского диапазона частот. Предложил способы монохроматизации рентгеновского синхротронного измерения с преобразованием поляризации. На основе эффектов динамического рассеяния рентгеновских лучей для искаженных монокристаллов со статистическим распределением дефектов разработал методы идентификации типа дефектов, оценки их параметров, а также способы прецизионного определения структурных факторов и характеристик динамики кристаллической решетки. Построил диаграммы состояния для оксидных систем, получил и исследовал ряд новых метастабильных перовскитных фаз сегнетоэлектриков. Эти исследования составили основу диссертации на получение ученой степени доктора физико-математических наук, которая была защищена в 1987 году. В 1989 г. Н. М. Олехнович избран членом-корреспондентом, а в 1996 г. — академиком Академии наук Беларуси, в 1991 г. ему присвоено звание профессора, а в 1999 г. — Заслуженного деятеля науки Республики Беларусь.
Н. М. Олехнович в своих работах развил подход для описания фазовых переходов в кристаллах галоидных и оксидных соединений со структурой типа перовскита на основе учета напряженности межатомных связей и обусловленного ею многоямного потенциала.
В 1998–2003 гг. — главный редактор журнала «Весці НАН Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук».
Награжден медалью.
Автор более 300 научных трудов, 19 изобретений.
Труды
Таблицы тригонометрических функций для подсчета распределения электронной плотности в кристаллах / Н. М. Олехнович. — Минск : Наука и техника, 1967. — 219 с.
Книга в библиотеке